两瓣式测量系统精密测量台架,为测量孔径内的几何形状,应让两瓣式测头配合测量台架使用。测量台架为准确高效地查看孔径的几何形状提供了可靠的基础。测量过程不需要通过摇摆寻找最小值,测量精确。测量台架适用于车间及实验室。
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两瓣式测量系统精密测量台架,为测量孔径内的几何形状,应让两瓣式测头配合测量台架使用。测量台架为准确高效地查看孔径的几何形状提供了可靠的基础。测量过程不需要通过摇摆寻找最小值,测量精确。测量台架适用于车间及实验室。
产品特点:
为测量孔径内的几何形状,应让两瓣式测头配合测量台架使用。测量台架为准确高效地查看孔径的几何形状提供了可靠的基础。测量过程不需要通过摇摆寻找最小值,测量精确。需要配合使用浮动夹头,V型夹紧装置等附件,让不熟练的工人也可以胜任快速的测量操作。对于某一深度的直径值有要求时可使用深度限位附件。测量台架适用于车间及实验室。
测量台架使用方便,非常适合测量小型工件。测量行程从0-40mm连续可调。调整螺母可以很方便的确定需要调整的高度。工作台直径为中Φ58mm。
附件
V型夹紧装置,方便定位。
浮动夹头
将两瓣式测头夹紧在测量台架上,让测头在水平方向上有一定微小的浮动量。使测头在进入孔时可以很容易地找到正确的轴线。
浮动范围: 0-1.5mm连续可调。
测力可调浮动夹头,增加测力可调功能,适合薄壁小型工件。
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